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Die Berliner Nanotest & Design GmbH ist sowohl auf dem Gebiet der simulatorischen als auch der experimentellen Zuverlässigkeitsanalyse tätig. Zur Bewertung der System- und Funktionszuverlässigkeit wurden umfangreiche Untersuchungen bezüglich möglicher Ausfallmechanismen unternommen. Miniaturisierte Bauelemente in der Elektronik erfahren eine starke Belastung durch Umwelteinflüsse, die ungünstigen Falles zum Ausfall der gesamten Baugruppe führen könnten. Einschlägige Erfahrungen wurden auf dem Gebiet thermo-mechanischer Belastungen sicherheitstechnischer Anwendungen gesammelt. Es werden Modelle entworfen, um mittels Simulation die Zuverlässigkeit und Lebensdauer vorherzusagen. Aufbauend auf einem konsequenten Design for reliability (DfR) zur Absicherung der Funktion unter prognostizierten Umgebungsbedingungen der Applikationen wird ein breites Spektrum möglicher Störeinflüsse, wie Temperatur/-wechsel, Feuchte, Vibration, EMV und Über/-unterdruck abgedeckt. In Sensibilitätsanalysen konnte die Veränderung zuverlässigkeitsrelevanter Parameter gegenüber Einflüssen aus der Einsatzumgebung nachgewiesen werden.
Auf dem Gebiet der Mikro- und Nanodeformationsanalyse zur Zuverlässigkeitsbewertung von MST/-elektronik bietet die GmbH Dienstleistungen und Know-how an. Ein wesentlicher Schwerpunkt ist die Verbindung moderner numerischer Berechnungsverfahren mit experimentellen Analysen im Mikro- und Nanobereich, deren wesentliche Basistechnologie die digitale Bildkorrelation darstellt.
- Zuverlässigkeitsuntersuchungen für Sensorik in sicherheitsrelevanten Prozessumgebungen und abgeleitete Designvorgaben
- Zuverlässigkeit von RFID VAN Knoten in einer Prozessumgebung
- Anwendung der digitalen Bildkorrelationsanalyse für Autentizitätsprüfung
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